پرتو خروجی از لوله پدید آورنده پرتو ایکس به نمونه می تابد و در اثر بمباران، الکترون های موجود در مدار های داخلی اتم خارج شده و جایگزینی این الکترون ها از مدارهای بالایی، سبب پدید آمدن پرتو ایکس مشخصه خواهد شد. اساس این پدیده، مانند حالتی است که نمونه، توسط الکترون بمباران می شود.
طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس به دو نوع WDS و EDS تقسیم بندی می شود. در روش WDS پرتوی ایکس خروجی از نمونه مجهول، پیش از ورود به آشکار ساز، توسط یک بلور تفکیک می شود. در روش EDS پرتو خروجی از نمونه بدون آنکه توسط بلور آنالیز کننده تفکیک شود، وارد آشکارساز می شود. تفاوت اصلی دو روش EDS و WDS به سرعت، دقت، قدرت تفکیک این دو روش مربوط است.
جهت خرید و استعلام قیمت دستگاه XRF با ما در ارتباط باشید :
